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Dagaanbieding Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - Debashis Bhattacharya - John P. Hayes - Libro in lingua inglese - Springer - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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Descrizione

Fortuna Fatali e il teorema del calesse di Valentina Barzago Recensioni: 0/5 DettagliAutore: Debashis Bhattacharya, John P. Hayes Editore:SpringerCollana:The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceAnno:1989Rilegatura:HardbackPagine:160 p.Testo in EnglishDimensioni:235 x 155 mmEAN:9780792390589

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