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Goedkoop Reliability, Yield, and Stress Burn-In A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development - Way Kuo - Wei-Ting Kary Chien - Libro in lingua inglese - Springer -

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Descrizione

Fortuna Fatali e il teorema del calesse di Valentina Barzago Recensioni: 0/5 DettagliAutore: Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim Editore:SpringerAnno:1998Rilegatura:HardbackPagine:394 p.Testo in EnglishDimensioni:235 x 155 mmEAN:9780792381075

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