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Koopje Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Angela Krstic - Kwang-Ting (Tim) Cheng - Libro in lingua inglese - Springer - Frontiers in Electronic Testing

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Descrizione

Fortuna Fatali e il teorema del calesse di Valentina Barzago Recensioni: 0/5 DettagliAutore: Angela Krstic, Kwang-Ting (Tim) Cheng Editore:SpringerCollana:Frontiers in Electronic TestingAnno:1998Rilegatura:HardbackPagine:191 p.Testo in EnglishDimensioni:235 x 155 mmEAN:9780792382959

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