Package Electrical Modeling, Thermal Modeling, and Processing for GaAs Wireless Applications - Dean L. Monthei - Libro in lingua inglese - Springer - Electronic Packaging and Interconnects Favoriet

Descrizione

Fortuna Fatali e il teorema del calesse di Valentina Barzago Recensioni: 0/5 DettagliAutore: Dean L. Monthei Editore:SpringerCollana:Electronic Packaging and InterconnectsAnno:1998Rilegatura:HardbackPagine:234 p.Testo in EnglishDimensioni:235 x 155 mmEAN:9780792383642