Premium Integrated Circuit Defect-Sensitivity Theory and Computational Models - José Pineda de Gyvez - Libro in lingua inglese - Springer - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Descrizione

Fortuna Fatali e il teorema del calesse di Valentina Barzago Recensioni: 0/5 DettagliAutore: José Pineda de Gyvez Editore:SpringerCollana:The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceAnno:1992Rilegatura:HardbackPagine:167 p.Testo in EnglishDimensioni:235 x 155 mmEAN:9780792393061