In offerta!
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation - Kwang-Ting (Tim) Cheng - Vishwani D. Agrawal - Libro in lingua inglese - Springer - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Beperkte Voorraad

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation - Kwang-Ting (Tim) Cheng - Vishwani D. Agrawal - Libro in lingua inglese - Springer - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Beperkte Voorraad

Il prezzo originale era: 133,00 €.Il prezzo attuale è: 53,20 €.

Pagamenti sicuri Carta, PayPal e checkout protetto
Spedizione gratuita e veloce Consegna rapida in tutta Italia
Supporto rapido Assistenza su ordini e spedizioni
COD: SK2629780 Categoria: Tag:

Descrizione

Fortuna Fatali e il teorema del calesse di Valentina Barzago Recensioni: 0/5 DettagliAutore: Kwang-Ting (Tim) Cheng, Vishwani D. Agrawal Editore:SpringerCollana:The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceAnno:1989Rilegatura:HardbackPagine:148 p.Testo in EnglishDimensioni:234 x 156 mmEAN:9780792390251

Prodotti correlati